澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心用材與工藝

產(chǎn)品簡介

澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心用材與工藝
臺式掃描電子顯微鏡的長期性能穩(wěn)定，依賴于定期維護(hù)。ZEM20的維護(hù)重點(diǎn)集中在真空系統(tǒng)、探測器及環(huán)境控制

產(chǎn)品型號：

更新時間：2026-01-19

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：218

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸ZEM20掃描顯微鏡核心用材與工藝

澤攸?ZEM20 以緊湊結(jié)構(gòu)、可靠真空系統(tǒng)、靈活的自動化功能以及完善的維護(hù)體系，能夠滿足材料科學(xué)、能源、生命科學(xué)等多領(lǐng)域的微觀表征需求。通過上述六篇技術(shù)文章，您可以快速了解其硬件構(gòu)成、成像性能、材料工藝、操作要點(diǎn)、環(huán)境適配以及典型應(yīng)用場景，為實驗室選型與日常使用提供系統(tǒng)參考。

真空腔：6061?T6 鋁合金經(jīng)硬質(zhì)陽極氧化（厚度 35?µm），顯微硬度 380?HV，放氣率 4.5?×?10???Pa·L·s?1·cm?2。
磁屏蔽筒：1J79 坡莫合金，壁厚 2?mm，μr?>?40?000，磁場抑制至 <?3?nT，像散畸變 <?0.2?%。
電纜：50?kV 級硅膠絕緣線，外覆不銹鋼網(wǎng)屏蔽，彎曲半徑 ≥?40?mm，耐 10? 次彎曲。
信號線：PTFE 隔離 Litz 線，40?kHz 掃描時交流電阻下降 18?%。
密封件：Viton A O?ring，放氣率 1?×?10???Pa·L·s?1·cm?2，壽命 ≥?2?年。

材料參數(shù)概覽

組件	材料	表面處理	放氣率 (Pa·L·s?1·cm?2)
真空腔	6061?T6 鋁	硬質(zhì)陽極氧化	4.5?×?10??
鏡筒	SUS304 不銹鋼	電拋光	2?×?10??
屏蔽筒	1J79 坡莫合金	鈍化	1?×?10??
密封圈	Viton A	—	1?×?10??