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隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，各類(lèi)法醫(yī)和犯*現(xiàn)場(chǎng)證據(jù)的微觀分析對(duì)偵破案件的重要性日益增強(qiáng)。電鏡作為一種高分辨微觀工具，在法醫(yī)和犯*現(xiàn)場(chǎng)搜證方面有巨大的應(yīng)用價(jià)值。澤攸科技自主研發(fā)的ZEM18掃描電鏡，利用其超高的圖像分辨率，可以觀察到肉眼無(wú)法識(shí)別的細(xì)微痕跡，為警方提供詳盡而關(guān)鍵的物證，科學(xué)地偵破許多看似復(fù)雜的刑事案件。例如在涉水死亡案件中，ZEM18掃描電鏡可以通過(guò)人體組織內(nèi)殘留的硅藻種類(lèi)、數(shù)量和狀態(tài)判斷受害者是生前落水還是死后落水。此外，ZEM18掃描電鏡可以檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)殘留物，如受害者衣...

三維共聚焦白光干涉儀作為現(xiàn)代精密測(cè)量領(lǐng)域的先進(jìn)儀器，在微觀形貌測(cè)量中展現(xiàn)出杰出的性能和廣泛的應(yīng)用價(jià)值。這種先進(jìn)的測(cè)量設(shè)備融合了共聚焦顯微技術(shù)和白光干涉技術(shù)，為科研和工業(yè)領(lǐng)域提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。1.在性能方面，三維共聚焦白光干涉儀具有納米級(jí)的分辨能力，能夠精確測(cè)量微觀表面的三維形貌特征。其垂直分辨率可達(dá)0.1納米，橫向分辨率可達(dá)0.5微米，這種高精度的測(cè)量能力使其在半導(dǎo)體、光學(xué)元件等精密制造領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。同時(shí)，該儀器具有較大的測(cè)量范圍，可實(shí)現(xiàn)從納米到毫米級(jí)的跨尺度測(cè)量...

當(dāng)今工業(yè)領(lǐng)域?qū)τ诋a(chǎn)品的質(zhì)量和安全性的要求越來(lái)越高，因此需要高效、準(zhǔn)確的檢測(cè)技術(shù)來(lái)保障產(chǎn)品的品質(zhì)。掃描電鏡作為一種高分辨率、高靈敏度的成像技術(shù)，已經(jīng)在工業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。從微觀結(jié)構(gòu)到表面形貌的檢測(cè)，掃描電鏡都能夠提供精確的信息。除了高分辨率成像外，掃描電鏡還具有能夠?qū)悠愤M(jìn)行定量化分析的能力。例如，掃描電鏡可以對(duì)化學(xué)成分、尺寸、形狀等物理參數(shù)進(jìn)行定量分析。這種定量分析能力使掃描電鏡成為了工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域中不可或*的工具。本期內(nèi)容，我們將會(huì)一起探討ZEM18掃描電鏡在工業(yè)檢測(cè)上的...

我們致力于與您的集成需求一起不斷發(fā)展，Smart2我們很高興與您分享一些有關(guān)我們的Smart2系統(tǒng)令人興奮的消息！在本新聞中，您將了解到有關(guān)新功能的信息，有一個(gè)演示該系統(tǒng)在CMP過(guò)程的案例研究以及我們?cè)谥袊?guó)的合作伙伴成功完成的一次集成的消息。打開(kāi)新的探索途徑！Smart2變得更加靈活多樣，添加了三個(gè)新干涉物鏡，包括干涉2.5XTI和5XTI，以及明場(chǎng)100XEPI鏡頭。有了這些新鏡頭，顯微鏡的功能得到了大大增強(qiáng)。接近科技的極限使用CSI的膜厚模式，用戶可以獲取約為1.5微米厚...

層狀高鎳NCM三元正極是廣泛運(yùn)用于電動(dòng)車(chē)的高容量商業(yè)鋰離子電池正極材料。然而，在循環(huán)過(guò)程中的結(jié)構(gòu)劣化會(huì)造成其不可逆的容量衰減，其中高電壓下產(chǎn)生的層間滑移（planargliding）和晶內(nèi)微裂紋（microcracking）為結(jié)構(gòu)劣化的主要表現(xiàn)形式。晶格坍塌（Lattice-collapse），也是一種被人們熟知的NCM在高電壓區(qū)間發(fā)生的*有現(xiàn)象，即為在退鋰過(guò)程中，垂直c軸的（003）層狀晶面在低電壓區(qū)間緩慢膨脹，高壓區(qū)間（約4.1V以上）快速縮減從而“坍塌”。目前的研究只知...

偏光顯微鏡作為一種特殊的顯微鏡，在科研領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其重要性不僅體現(xiàn)在對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的精細(xì)觀察上，還體現(xiàn)在對(duì)樣品性質(zhì)的深入分析上。以下將詳細(xì)闡述偏光顯微鏡在科研中的重要作用與優(yōu)勢(shì)。一、重要作用揭示樣品微觀結(jié)構(gòu)：偏光顯微鏡能夠利用偏光現(xiàn)象增強(qiáng)樣品中的細(xì)節(jié)和對(duì)比度，從而清晰地揭示樣品的微觀結(jié)構(gòu)。這對(duì)于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域的科研工作者來(lái)說(shuō)至關(guān)重要，因?yàn)樗麄冃枰钊肓私鈽悠返膬?nèi)部結(jié)構(gòu)以揭示其性質(zhì)和功能。分析樣品光學(xué)性質(zhì)：通過(guò)偏光顯微鏡，科研工作者可以觀察和分析樣...

在科技日新月異的今天，高精度測(cè)量技術(shù)已成為眾多科研與工業(yè)領(lǐng)域至關(guān)重要的重要工具。其中，5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀以其杰出的性能和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，成為了精密測(cè)量領(lǐng)域中的一顆璀璨明星。這款儀器結(jié)合了高精度旋轉(zhuǎn)模塊和先進(jìn)的3D光學(xué)輪廓儀技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了在固定位置上的全自動(dòng)3D表面測(cè)量。其特殊的五軸設(shè)計(jì)，使得樣品可以在多個(gè)方向上進(jìn)行靈活旋轉(zhuǎn)和定位，從而確保了對(duì)復(fù)雜曲面和不規(guī)則形狀樣品的全表面精確測(cè)量。5軸空間3D共聚焦白光干涉輪廓儀的測(cè)量原理基于白光干涉現(xiàn)象。光源發(fā)出的光經(jīng)過(guò)擴(kuò)束準(zhǔn)...

蔡司掃描電鏡（SEM）作為現(xiàn)代材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的重要分析工具，其樣品的制樣過(guò)程直接關(guān)系到觀察結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。以下是蔡司掃描電鏡樣品制樣的基本步驟，旨在幫助用戶正確制備樣品，從而獲得高質(zhì)量的微觀圖像。首先，根據(jù)樣品的性質(zhì)（如導(dǎo)電性、硬度等）選擇合適的制樣方法。對(duì)于導(dǎo)電性良好的樣品，如金屬，可以直接使用導(dǎo)電膠將其固定在樣品臺(tái)上。而對(duì)于導(dǎo)電性較差或非導(dǎo)電的樣品，如陶瓷、塑料等，則需要在其表面進(jìn)行鍍膜處理，以增加導(dǎo)電性，避免電荷積累影響觀察。其次，進(jìn)行樣品的清洗和干燥。...